大小单双官网

欢迎来到大小单双科技有限公司[官网]网站!
网站导航
技术文章
当前位置:主页 > 技术文章 >光学薄膜测量仪的工作原理

光学薄膜测量仪的工作原理

更新时间:2024-01-04    点击次数:409
光学薄膜由薄的分层介质构成的,通过界面传播光束的一类光学介质材料。光学薄膜的应用始于20世纪30年代。现代,光学薄膜已广泛用于光学和光电子技术领域,制造各种光学仪器。主要的光学薄膜器件包括反射膜、减反射膜、偏振膜、干涉滤光片和分光镜等等。它们在国民经济和国防建设中得到了广泛的应用。
 
GL-SPM-D2T光学薄膜测量仪是​能快速准确地测量手机屏幕目的透光率以及各类平面光学元件的透射率,可用于实时在线检测,实现产品全检的仪器。
 
原理:
 
当触针沿被测表面轻轻滑过时,由于表面有微小的峰谷使触针在滑行的同时,还沿峰谷作上下运动。触针的运动情况就反映了表面轮廓的情况。传感器输出的电信号经测量电桥后,输出与触针偏离平衡位置的位移成正比的调幅信号。经放大与相敏整流后,可将位移信号从调幅信号中解调出来,得到放大了的与触针位移成正比的缓慢变化信号。再经噪音滤波器、波度滤波器进一步滤去调制频率与外界干扰信号以及波度等因素对粗糙度测量的影响。

如果您有任何问题,请跟我们联系!

联系我们

版权所有©2023 大小单双科技有限公司[官网] 备案号: sitemap.xml 技术支持:

大小单双科技有限公司[官网](drivingmsdesi.com)主营:分光光度计,紫外可见分光光度计,扫描型紫外可见分光光度计

地址:上海漕河泾开发区

在线咨询 联系方式 二维码

服务热线

13761586502

扫一扫,关注我们